Süreç ve kalite kontrolünde her saniye önemlidir. 5E-XRF2510, katı, toz ve sıvı numunelerde majör ve minör elementleri hızlı, güvenli ve tahribatsız bir şekilde analiz etmenizi sağlayan enerji dağılımlı X-ışını floresan (EDXRF) teknolojisini kullanır. Karmaşık numune hazırlığına gerek kalmadan, sadece numuneyi yerleştirip “Başlat”a dokunmanız yeterlidir; sonuçlar saniyeler içinde hazır olur.
Model | 5E-XRF2510 EDXRF Spektrometresi |
| Elementler | Na-U'dan tüm elementler |
| Konsantrasyon Aralığı | ppm-100% |
| Uygulama Kapsamı | Kömür ve kömür külü kompozisyon analizinde fosfor (Na2O, MgO, Al2O3, SiO2, P2O5,SO3, K2O, CaO,Fe2O3 vb.); Çimento, RoHS, jeolojik madencilik, plastik polimer, petrokimya, metal, çevre koruma, tıp, arkeolojik sanat, gıda ve kozmetik. |
| Örnek türleri | Toz, Partikül, Çözelti, Sol, Katı, vb. |
| Spektral Oda Boyutu | 110(Çap)×125(Yükseklik) mm |
| Atmosfer Modu | Hava Modu Her türlü numunede ağır element analizi için uygundur Helyum SistemiYakıtlar gibi uçucu sıvı numunelerinde hafif element analizinde en iyi performansı sağlar Vakum SistemiTablet numunesi vakum modunda ölçülmüştür ve helyum tüketmez. |
| X-Ray Tüpü | İsteğe bağlı hedef malzemeler Maksimum Güç: 50W Maksimum Voltaj: 50KV Maksimum Akım: 1mA |
| Dedektörler | Silikon Drift Dedektörü Enerji Çözünürlüğü: 127eV FWHM @ Mn Kα Sayım Hızı: 100000cps Peltier Soğutma |
| Oyulma Sistemi | Dahili helyum temizleme sistemi, toz numunelerin test performansını artırır. |
| Kirlilik Koruma Sistemi | Sıvı numune sızıntısını, katı numuneye düşen parçacıkların ve tozdan dolayı dedektör ve x-ışını tüpünün hasar görmesini önlemek için entegre dedektör ve x-ışını tüpü koruma sistemi. |
| Vakum Sistemi | Tablet numunesi vakum modunda ölçülmüştür ve helyum tüketmez. |
| Radyasyon Güvenliği | X-ışını kırınımı ve floresan analiz ekipmanı için GBZ115—2002 Radyolojik koruma standartlarına uygundur |
| Boyutlar (U×G×Y) | 760×680×880mm |
Geniş Uygulanabilirlik:
Katı, sıvı, toz ve partikül numuneler için uygundur.
Kolay Kullanım:
Karmaşık numune ön işleme sürecine gerek yoktur. Kullanıcıların numuneleri test alanına koymaları ve analizi tamamlamak için “Başlat”a tıklamaları yeterlidir.
Yüksek Verimlilik:
Tek numune analizi için 1–15 dakika (ihtiyaca göre ayarlanabilir). Robot manipülatörü sayesinde XRF2510, parti başına 60 numuneyi otomatik olarak yükleyebilir ve bu da test verimliliğini önemli ölçüde artırır.
Modüler Tasarım:
İhtiyaç halinde serbest kombinasyon, çeşitli kullanım senaryolarına uygundur.
Düşük Maliyet:
Vakum modunda herhangi bir kimyasal veya başka sarf malzemesine ihtiyaç duyulmaz ve helyum tüketilmez.
En İyi Çözünürlük ve CR:
En iyi sayım hızı ve enerji çözünürlüğüne sahip gelişmiş silikon sürüklenme dedektörü kullanılır. 50W güç optik tüpünün çıkışından tam olarak yararlanarak yüksek stabilite ve hassasiyet sağlanır.
Geniş Menzil:
Na–U’daki tüm elementler, PPM’den %100’e kadar değişen konsantrasyonlarda test edilir.
Güvenli Kullanım:
Cihazın test odası, kalın bakır, elektronik kilitleme tasarımı ve yazılım kesintisi de dahil olmak üzere üçlü koruma önlemleriyle, hiçbir test ortamında X-ışını sızıntısının kesinlikle önlenmesini sağlar.
Dokunmatik Ekran Kontrolü:
Ergonomik dokunmatik ekran tasarımı, operatörlerin klavye ve fare kısıtlamalarından kurtulmasını sağlar. Yazılım tasarımı basit ve sezgiseldir. Herkes cihazı çalıştırmak için dokunmatik ekran kontrol yazılımını kullanabilir, bu da tüm analizi daha kolay ve hızlı hale getirir.
